四探针电阻率测试仪

型号/规格：M36271362#$%^63#$贸易商%^653#$全新%^652#$%^64#$中国

产品描述：数字温度湿度报警器 型号:M362713 2、温度湿度传感器：CMOS数字型温度湿度传感器，长方盒型壁挂式。 3、监测温度：－55℃～＋125℃。 6、工作电压：DC...

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型号/规格：DH28-FT-394C 18#$%^19#$贸易商%^141#$全新%^638#$%^20#$中国

产品描述：四探针电阻率测试仪 型号:DH28-FT-394C 技术参数 1.方块电阻 0.001～2.00×10^4Ω/□ 2.电阻率 0.001～2×10^4Ω-cm 3.分辨率 0.001Ω 4.显示读数 ...

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型号/规格：TH02-FT-341102#$%^103#$贸易商%^139#$全新%^104#$国产

产品描述：四探针电阻率测试仪 型号:TH02-FT-341库号：M386778四探针电阻率测试仪 型号:TH02-FT-341库号：M386778四探针电阻率测试仪 型号:TH02-FT-341库号：M386778四...

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型号/规格：ZXYD/BY20103072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

产品描述：仪器介绍 电导率测试仪，也称为直读式等值盐密度测试仪（盐密仪），为测试缘子等值盐密度而设计。系统内置缘子等值盐密度计算公式，读数直观。使用中文菜...

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型号/规格：DH08-FT-394C46#$%^47#$%^137#$%^641#$%^48#$

产品描述：四探针电阻率测试仪/手持式四探针电阻率 型号:DH08-FT-394C库号：M398250 查看hh技术参数 方块电阻：0.001～2.00×104Ω/□ 电阻率：0.0001～2×105Ω...

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型号/规格：DH08-FT-394C46#$%^47#$%^137#$%^641#$%^48#$

产品描述：四探针电阻率测试仪/手持式四探针电阻率 型号:DH08-FT-394C库号：M398250 查看hh技术参数 方块电阻：0.001～2.00×104Ω/□ 电阻率：0.0001～2×105Ω...

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型号/规格：FT-33328#$%^39#$%^127#$%^633#$%^40#$

产品描述：四探针电阻率测试仪 型号:YK22-FT-333库号：M251813 适用范围：适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系...

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型号/规格：FT-34128#$%^39#$%^127#$%^633#$%^40#$

产品描述：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容...

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型号/规格：STZ400H28#$YAOS%^39#$制造商%^127#$全新%^40#$西安

产品描述：STZ400H型半导体四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测...

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型号/规格：STZ400H28#$YAOS%^39#$制造商%^127#$全新%^40#$西安

产品描述：STZ400H型半导体四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测...

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产品描述：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更。 数...

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产品描述：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更。 数...

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型号/规格：HPS2561

产品描述：产品品牌：海尔帕 产品型号：HPS2561 ...

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型号/规格：HPS2561

产品描述：产品品牌：海尔帕 产品型号：HPS2561 ...

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型号/规格：HPS256128#$海尔帕/HPS%^39#$制造商%^127#$全新%^40#$江苏常州

产品描述：测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能...

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型号/规格：HPS256128#$海尔帕/HPS%^39#$制造商%^127#$全新%^40#$江苏常州

产品描述：测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能...

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产品描述：产品品牌：羲和 薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩...

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产品描述：产品品牌：羲和 薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩...

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型号/规格：CN61M/KDY-1A/金牌/优势

产品描述：概述 便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的国际...

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型号/规格：CN61M/KDY-1A/金牌/优势

产品描述：概述 便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的国际...

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