产品描述:Multimode 扫描探针显微镜的详细信息 Multimode 扫描探针显微镜 Multimode型系统是...
型号/规格:BRUKER(原VEECO)
产品描述:DNP-10?氮化硅探针用于接触式或轻敲模式或力的测量。非套装,适用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。每个基片有4个悬臂,弹性系数为0.06 - 0.58 N/m,共...
型号/规格:VEECO
产品描述:Dimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术,可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料...
产品描述:标准搭载:零配件搭载X?Y扫描电压:Z扫描电压 X Y: ±200V/18bit Z:±200V/21bit 同时测定:8192×1024×4画面,8192×8192×4画面扫描顺序:±180
产品描述:Nanocute SS是把主要用途集中于表面形貌观察的同时,采用即插即用的「自感型悬臂」,把试验准备到测量进行的处理方式变得非常简单。
产品描述:能够在空气和液体中简便地进行高分辨率观察的小型通用多功能型单位。通过采用了低相干光源、对热源的控制,实现了更高分辨率、更低偏差、更小光干渉的高分辨...
产品描述:大气中、真空中、溶液中等,对应各种各样的测定环境的环境控制单位。可在不同温度时测量样品表面的形貌和物性的变化,对升温条件进行程序设定,搭载了能够检...
产品描述:可以全自动多点测定,可以对应至6英寸(8英寸)的大型样品。另外,通过采用精密扫描器和低相干光源,能够更正确且高地测量出超微需求的形貌。
产品描述:卓越的分辨力与性能 即使面对具挑战性的观测样本,紧凑且坚固的设计依然了它的噪音和的分辨率; 即使面对苛刻的应用,NanoScope V纳米级控制器提供...
产品描述:扫描速度的诠释,拥有的扫描分辨率,优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),在不损失Dimension?I...