S-image 扫描探针显微镜

品名  扫描探针显微镜
型号  S-image 
概要  能够在空气和液体中简便地进行高分辨率观察的小型通用多功能型单位。通过采用了低相干光源、对热源的控制，实现了更高分辨率、更低偏差、更小光干渉的高分辨率多功能型单位。 
特长 
1. 操作简单、无压力机构
以有定评的「Front Wide Open机械装置」「Over Slide Head机械装置」为首，装备了各种各样容易更换样品的机械装置。  
2. 利用低相干光学系控制干渉条纹噪音
通过采用「低相干(光干渉少)光源」，消除了高输出时的Mode Hop噪音和反光的噪音，S/N比提高了1.5倍。使超微需求的更高分辨率观察成为可能。
3. 通过热源控制构造实现的低偏差化
通过「热源控制构造」，单位主体的热源得到彻底的排除。 实现了以前的1/10以下的偏差，大幅度地提高了超微需求的构造测量中不可或缺的基本性能。
4. 稳定的高分辨率性能
通过新方式的下针功能，实现了探针的柔和接触样品。下针时对探针的损伤可以控制到小。
 
主要产品规格
分辨率 原子相
样品尺寸  35mmφ、厚度10ｍｍ对应　以加高挡板(零配件)对应至厚度20mm
样品移动范围  X-Y stage 5mm
扫描范围
标准： 20µm□/1.5µmH对应
• 100µm□/15µmH对应
• 150µm□/5µmH对应
• 110µm□/6µmH对应(闭环固定偏差控制)
 
定位显微镜
 • 简易显微镜(×200倍)
• 光学显微镜(×1000倍)
• 变焦显微镜(×700倍)
• 金属显微镜(装有微分干渉)(×2000倍)
 
测定功能 • AFM(接触模式)
• DFM(轻敲模式)
• PM(相位)
• FFM(摩擦)
• MFM(磁力) • SISモード
• LM-FFM(横振动摩擦)
• VE-AFM/DFM(粘弹性)
• Adhesion(吸附力)
• CURRENT(电流)
• SSRM(扩展抵抗)
• PRM(压电响应)、KFM(表面电位)
零配件    
液体中?电化学对应杆
外壳元件 密封环境控制元件 电化学元件