钨探针
一．T-4 系列软针
扫描电镜下的成像 | T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电。
T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。
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图1 |
T-4 系列探针 | |||
型号 | 钨材质针须直径 | 针尖直径 | 针须长度 |
T-4-5 | 5 微米 | <0.2微米 | 0.13" (3.3mm) |
T-4-10 | 10微米 | <0.2微米 | 0.13" (3.3mm) |
T-4-22 | 22微米 | <2.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
T-4-35 | 35微米 | <4.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
T-4-60 | 60微米 | <6.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
T-4-125 | 125微米 | <10.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
图2 |
T-4 系列探针尺寸图 |
图3 |
二．ST 系列硬针
ST 系列硬针是0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径，长度为1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与大多数的芯片电点测和线路点测。
ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果选择镀镍则型号后面增加“NP”。 |
ST系列硬针 | ||
型号 | 针杆直径 | 针尖直径 |
ST-20-0.5 | 0.020" (0.51mm) | <1 微米 |
ST-20-1.0 | 0.020" (0.51mm) | <2.0微米 |
ST-20-2.0 | 0.020" (0.51mm) | <4.0微米 |
ST-20-5.0 | 0.020" (0.51mm) | <10.0微米 |
ST-20-10.0 | 0.020" (0.51mm) | <20.0微米 |
图 4 |
ST 系列探针尺寸 |
