近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品可靠度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中重要的考量标准之一就是热阻（thermal resistance）。
本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法，运用实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类IC、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。
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