有买立即优惠HP4278A电容计Agilent4278A-李海凤
品牌: | 惠普 | HP
HP4278A电容计Agilent4278A
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,R,G
C-D测量:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，R，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、R和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，R，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、R和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
一般技术指标：
工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
•4278A 1kHz/1MHz电容测试仪
Opt W30 扩大的维修服务
Opt 001 只1kHz测试频率
Opt 002 只1MHz测试频率
Opt 003 1%的频率漂移；
电源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax
尺寸
约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准）
选用二手测量仪器的优势是：
1、与新购仪器几个月的供货期相比，购买二手仪器的供货期要短的多。在 时间就是市场的今天，优势无疑是为明显的。
2、二手仪器的价格便宜，基本为新购仪器价格的20%～50%。在电子技术迅 速发展的今天，仪器的更新也在加快，投资越少则风险越小。
3、为了让您放心地使用我们提供的二手仪器，我们销售的二手仪器可以做到：1、保修半年至一年不等。
2、可以根据您的要求，将仪器送至计量测试单位进行校准。
备注：本公司主营二手仪器，届时本公司货源广阔，大部分将继续直接从国外引进，成色新，价格低，性价比高，并且在服务方面尽努力做到！欢迎来电垂询或亲临选购，并欢迎预订。
