仪器特点：
1．仪器外观选用的流线型设计，时尚雅致。
2．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3．可以分析多5层镀层，可分析元素多达24种。
4．无需复杂的样品预处理过程，测试。
5．检出限可2ppm。
6．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
7．采用美国原装、国际的探测器，能量分辨率高。
8．采用美国原装、国际的AMP，处理速度快，高，稳定。
9．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10．采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11．采用电动无控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12．采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13．高度传感器。
14．保护传感器，保护探测器。
15．度高，稳定性好，故障率低。
16．辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统多层屏蔽保护，辐射性。
17．WINDOWS XP 中文应用软件，的分析方法，强大的功能，操作简单，使用方便。
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
镀层标准厚度（μm） | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
镀层荧光厚度（μm） | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
