Thick-900系列X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发及生产技术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900系列X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
仪器特点：
1． 仪器外观选用的流线型设计，时尚雅致。
2． 同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3． 可以分析多5层镀层，可分析元素多达24种。
4． 无需复杂的样品预处理过程，测试。
5． 检出限可2ppm。
6． 分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
7． 采用美国原装、国际的探测器，能量分辨率高。
8． 采用美国原装、国际的AMP，处理速度快，高，稳定。
9． X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10． 采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11． 采用电动无控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12． 采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13． 高度传感器。
14． 保护传感器，保护探测器。
15． 度高，稳定性好，故障率低。
16． 辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统多层屏蔽保
护，辐射性。
17． WINDOWS XP 中文应用软件，的分析方法，强大的功能，操
作简单，使用方便。
