荧光光谱仪参数|原装荧光光谱仪参数齐全

　　荧光光谱仪参数齐全，该产品以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

　　技术指标：
　　>多镀层，1~6层
　　>测试：0.01 um
　　>元素分析范围从铝（Al）到铀（U）
　　>元素含量分析范围为1PPm到99.99%
　　>测量时间：10-60秒
　　>多次测量重复性误差<0.1%
　　>SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特
　　>X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时
　　>高清CCD摄像头，监控位置
　　> 准直器尺寸0.1~1.0mm
　　>多变量非线性去卷积曲线拟合
　　> 高性能FP/MLSQ分析
　　>样品室尺寸 320x330x80 mm
　　>仪器尺寸 500x380x355 mm
　

　　图谱界面：
　　>软件支持无标样分析
　　>集成了镀层界面和合金成分分析界面
　　>采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
　　>分析可达到0.01um
　

　　分析结果
　　>直接打印分析
　　>可转换为PDF,EXCEL和HTML格式
　

　　镀层厚度分析软件
　　>采用业界先进的基本参数法（FP），可对镀液进行定量分析
　　>可分析1~6层、以及合金镀层成分
　　>可同时分析20种元素，频谱比较、 减法运算和配给
　　>智能背景滤波器
　　>有多种分析计算数学模型，方便对不同材料，不同样品的分析测量
　　>可制作多条工作曲线，各个曲线测试条件独立，方便了测试