询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
瓷器镀金测厚仪的产品说明、技术参数及配置介绍。
仪器介绍
瓷器镀金测厚仪Thick800A是天瑞公司基于多年经验专门研发的一款仪器，旨在服务镀层行业。该仪器实现了全自动化的软件操作，支持多点测试，测试点和移动平台均由软件控制。功能强大的它，配合专为其开发的软件，能够在镀层行业中展现出色的性能。
详情介绍
天瑞仪器的Thick800A是一款高性能的X荧光镀层测厚仪，下面是它的详细介绍：
性能特点
瓷器镀金测厚仪具有精准的定位测试功能：配备高精度移动平台，重复定位精度小于0.005毫米，能够准确地定位测试点。仪器采用激光高度定位技术，能够自动设定测试高度，通过定位激光确定光斑位置，以确保测试点与光斑对齐。此外，用户可以通过鼠标控制移动平台，一键点击即设定被测点，满足不同厚度样品及不规则表面的测试需求。
微小测试点分析：φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
高分辨率检测：使用高分辨率探头与高性能电致冷半导体探测器相结合，从而提高分析结果的准确性。
安全防护措施齐全：具备出色的射线屏蔽功能，测试口配备高灵敏度传感器，能够有效防止样品的撞击。
技术指标
瓷器镀金测厚仪的元素分析范围包括硫（S）至铀（U）。
元素及镀层分析能力：能同时分析超过30种元素及五层镀层。
分析含量的范围通常为ppm到99.9%。
镀层厚度的测量范围通常为 50μm 以内（具体视材料而异）。
其他参数：温度适应范围为 15℃至 30℃，电源要求为交流 220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。外观尺寸为 576 (宽) × 495 (深) × 545 (高) 毫米，样品室尺寸为 500(宽) × 350 (深) × 140 (高) 毫米，重量为 90公斤。
标准配置
瓷器镀金测厚仪由以下部件组成：开放式样品腔、二维移动样品平台（探测器与 X 光管可上下移动，实现三维移动）、双激光定位系统、铅玻璃防护罩、FAST - SDD 探测器、信号检测电路、高低压电源、X 光管、高度传感器、保护传感器、计算机和喷墨打印机。
应用领域
该设备主要应用于贵金属加工和首饰制作领域，服务于银行、珠宝销售商和检测机构，以及电镀行业。它可以进行黄金、铂金、白银等贵金属及各类首饰的含量检测，同时测量金属镀层的厚度，检测电镀液和镀层的成分含量。
