◆测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
◆分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
◆也可以测量镀层厚度 ◆◆ROHS指令检测主要技术指标 ◆分析:0.05%
◆样品室尺寸:1000*1000*300MM
◆测量时间:60-300秒
◆工作电源:220U&plun;5U
◆高 压:15-50KV
◆管 流:600μA
◆计数率:1300-8000Cps
◆ ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
◆检测时间为200秒
◆电致冷硅针半导体探测器
◆加强金属元素感度分析 ◆◆仪器基本配置 ◆单样品腔 ◆计算机、喷墨打印机 ◆硅针半导体探测器
◆硅针半导体探测器
◆放大电路
◆高低压电源
◆X光管 ◆无真空腔体