◆元素分析范围:从K到U
◆性可同时分析多层镀层
◆分析厚度检测出限达0.01um
◆同时可分析多达5层以上镀层
◆相互的基体效应校正模型,厚度分析方法
◆多次测量重复性可达0.01um
◆长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
◆温度适应范围:15℃~30℃
◆输出电压220&plun;5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源) ◆◆配置
◆开放式样品腔
◆二维移动样品平台
◆探测器和X光管上下移动可实现三维移动
◆双激光定位装置
◆准直器自动切换装置
◆玻璃屏蔽罩
◆正比计数盒探测器
◆信号检测电子电路
◆高低压电源
◆X光管
◆计算机及喷墨打印机
◆样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
◆外型尺寸:648mm×490mm×544mm