VJ Electronix Vertex A系列大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20"×24"），可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV，90kV，130kV，150kV）及探测器（2"/4"/6"图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
系统基础参数
型号 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦点大小 45μ 5μ 6μ 5μ
空间分辨率 ﹥10 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X ﹥130X ﹥70X ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头 ﹥29X ﹥240X ﹥130X ﹥110X
视野（可视区域） ﹥2" ﹥1.6" ﹥2" ﹥2"
编程能力 选配 标配
设备尺寸 70"×50"×62"（D×W×H）（2000mm×1422mm×1575mm）
离轴护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20"×24"；基板尺寸：20¼"×24¼"
可供选择的X光源（75kV，90kV，130kV，150kV）及探测器（2"/4"/6"图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
系统基础参数
型号 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦点大小 45μ 5μ 6μ 5μ
空间分辨率 ﹥10 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X ﹥130X ﹥70X ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头 ﹥29X ﹥240X ﹥130X ﹥110X
视野（可视区域） ﹥2" ﹥1.6" ﹥2" ﹥2"
编程能力 选配 标配
设备尺寸 70"×50"×62"（D×W×H）（2000mm×1422mm×1575mm）
离轴护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20"×24"；基板尺寸：20¼"×24¼"
