X-RAY 检测机
X光检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ Electronix Vertex A系列大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司
系统基础参数
型号 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦点大小 45μ 5μ 6μ 5μ
空间分辨率 ﹥10 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X ﹥130X ﹥70X ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头 ﹥29X ﹥240X ﹥130X ﹥10X
视野（可视区域） ﹥2” ﹥1.6” ﹥2” ﹥2”
编程能力 选配 标配
设备尺寸 70” ×50” ×62”(D×W×H) （2000mm×142mm×1575mm）
离轴护：可用1或2个轴夹具； 检测范围：20” ×24”； 基板尺寸：20¼” ×24¼”
X光检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ Electronix Vertex A系列大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司
系统基础参数
型号 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦点大小 45μ 5μ 6μ 5μ
空间分辨率 ﹥10 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X ﹥130X ﹥70X ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头 ﹥29X ﹥240X ﹥130X ﹥10X
视野（可视区域） ﹥2” ﹥1.6” ﹥2” ﹥2”
编程能力 选配 标配
设备尺寸 70” ×50” ×62”(D×W×H) （2000mm×142mm×1575mm）
离轴护：可用1或2个轴夹具； 检测范围：20” ×24”； 基板尺寸：20¼” ×24¼”
