X射线检测系统

　　X-ray 检测机
　　X光检测机
　　VJ Electronix Vertex A系列大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20"×24"），可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
　　可供选择的X光源（75kV，90kV，130kV，150kV）及探测器（2"/4"/6"图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
　　
　　系统基础参数
　　型号 A-75 A-90 A-130 A-150
　　光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
　　焦点大小 45μ5μ6μ5μ
　　空间分辨率﹥10 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm
　　总放大倍率-标配摄像头﹥24X﹥130X﹥70X﹥60X
　　总放大倍率-高分辨率摄像头﹥29X﹥240X﹥130X﹥110X
　　视野（可视区域）﹥2"﹥1.6"﹥2"﹥2"
　　编程能力选配标配
　　设备尺寸 70"×50"×62"（D×W×H）（2000mm×1422mm×1575mm）
　　离轴护：可用1或2个轴夹具；检测范围：20"×24"；基板尺寸：20¼"×24¼"