X-Strata920镀层测厚仪
荧光分析仪 X-Strata920是一款率、快速的镀层厚度测量及材料分析设备。
X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了：
以更的过程控制来生产力
有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
快速地分析珠宝及其他合金
快速分析多达4层镀层
经行业的技术和性，每年都带来收益
操作简单，要简单的培训
荧光分析仪 X-Strata920是一款率、快速的镀层厚度测量及材料分析设备。
X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了：
以更的过程控制来生产力
有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
快速地分析珠宝及其他合金
快速分析多达4层镀层
经行业的技术和性，每年都带来收益
操作简单，要简单的培训
其他说明
| 主要规格 | 规格描述 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| X射线激发系统 | 垂直下照式X射线光学系统 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W,Mo,Ag等 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 装备有射线光闸 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质,多种厚度的二次滤光片任选 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 准直器系统 | 单准直器组件 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
圆形,矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):
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| 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品室 | 开槽式样品室 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品台尺寸 | 610mm x 610mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XY轴移动范围 | 标准:152.4 x 177.8mm<程控> | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Z轴程控移动高度 | 43.18mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XYZ轴控制方式 |
多种控制方式任选: XYZ三轴程序控制; XY轴手动控制和Z轴程序控制; XYZ三轴手动控制 |
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| 样品观察系统 |
高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍. 50倍和100倍观察系统任选. |
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| 激光自动对焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 计算机系统配置 |
IBM计算机 佳能或爱普生彩色喷墨打印机 |
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| 分析应用软件 |
操作系统:Windows XP中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包 |
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| 测厚范围 | 可测定厚度范围:取决于您的具体应用. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 基本分析功能 | 采用基本参数法校正.牛津仪器将根据您的应用提供要的校正用标准样品; | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品种类:镀层; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可检测元素范围:Ti22 –U92; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 贵金属检测,如Au karat评价; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料和合金元素分析; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料鉴别和分类检测; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多达4个样品的光谱同时显示和比较; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 元素光谱定性分析. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 调整和校正功能 | 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式:"Point and Shoot" | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多点自动测量模式:随机模式,线性模式,梯度模式,扫描模式,重复测量模式 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量位置预览功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 激光对焦和自动对焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品台程控功能 | 设定测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 连续多点测量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量位置预览(图表显示) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 统计计算功能 | 平均值,标准偏差,相对标准偏差,值,小值,数据变动范围,数据编号,CP,CPK,控制上限图,控制下限图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 数据分组,X-bar/R图表,直方图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 数据库存储功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 系统监测功能 |
Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 |
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