镀层测厚仪（CMI900）

　　深圳镀层测厚仪、膜厚仪、X-ray测厚仪
　　新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的重大飞跃。软件和硬件领域的新进步了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
　　区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的技术中获益。
　　像我们的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们在售前和售后都提供卓越的服务。
　　测量和材料分析系统软件
　　Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。
　　
　　规格简介
　　无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题
　　包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体
　　5层/15种元素/普通元素效正
　　同时为多达15种元素进行成份分析
　　贵属分析和金纯度检查
　　材料与合金元素分析
　　材料鉴定与区别
　　
　　吸收测量方式
　　液体分析：分析液体中的金属，如电镀液
　　系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化
　　光谱计数速率峰值位移效正
　　重叠荧光峰值数字峰值反卷
　　定性光谱分析元素ID.同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱
　　Oxford统计数字和产生器LE（轻型）
　　Oxford SmartLink补充软件系列
　　Oxford统计数字和产生器
　　配备数据库的Oxford统计数字和产生器。

其他说明

基本分析功能		采用基本参数法校正,牛津仪器将根据您的应用提供要的标准样品
		可检测元素范围:元素周期表上22元素~92元素,即Ti~U
		可以同时测5层镀层,同时分析15种元素,共存元素校正
		贵属检测,如Au  kara评价
		材料和合金元素的分析
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
校正功能		系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
操作语言		中文(繁,简体),英语,日语,韩语,法语,德语,西班牙语,俄语