本筛选台是参照日本JIS标准及标准，并利用“75”期间快速筛选成果研制而成。常温测试，高温热测，热敏参数快筛取代直流老炼三大功能任意选用及组合使用。取代直流老化的办法是采用微电脑控制，在3-5秒内对发光二管施加稳态额定电流，使发光二管的结温接近或允许结温TjM，利用发光二管热敏参数作为失效判据，对发光二管的VF、IR、VDR进行常温、高温及加温前后的变化量性测试筛选，剔除热阻大，热开路，高温漏电流大等热不稳定性器件。
主要技术指标及功能：
1、正向压降VF 测试范围：0．1V—5V 测试条件：1mA—0．1A
反向漏电IR 测试范围：0．1uA—1mA 测试条件：5V—100V
反向压降VDR 测试范围：5V—100V 测试条件：1uA—1mA
加温电流IT：0．01A—0．1A 加温时间T：0—10S
2、中文菜单式界面，操作十分简便。
3、能性自动检测加温前、加温后的VF、IR、VDR及其变化量，并能任意选测或部分参数；若只测常温参数，每只器件1秒左右。
4、可任意设定器件型号，测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修改、调取。
5、测试结果在大屏幕液晶显示器（122×92mm）上显示，并标识累计测试总量；标器件自动声光报警，并在液晶屏上显示告警信息。
6、每项参数的测试结果通过统计可获得值、小值、平均值。
7、器件型号、测试时间、测试条件、失效判据、检测结果及器件编号，可通过打印机打印输出，或通过电脑串行口保存在电脑中。标器件自动标识。
8、测试时选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测管自动识别。
主要技术指标及功能：
1、正向压降VF 测试范围：0．1V—5V 测试条件：1mA—0．1A
反向漏电IR 测试范围：0．1uA—1mA 测试条件：5V—100V
反向压降VDR 测试范围：5V—100V 测试条件：1uA—1mA
加温电流IT：0．01A—0．1A 加温时间T：0—10S
2、中文菜单式界面，操作十分简便。
3、能性自动检测加温前、加温后的VF、IR、VDR及其变化量，并能任意选测或部分参数；若只测常温参数，每只器件1秒左右。
4、可任意设定器件型号，测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修改、调取。
5、测试结果在大屏幕液晶显示器（122×92mm）上显示，并标识累计测试总量；标器件自动声光报警，并在液晶屏上显示告警信息。
6、每项参数的测试结果通过统计可获得值、小值、平均值。
7、器件型号、测试时间、测试条件、失效判据、检测结果及器件编号，可通过打印机打印输出，或通过电脑串行口保存在电脑中。标器件自动标识。
8、测试时选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测管自动识别。
