电子散斑干涉是继全息干涉之后发展起来的一种实验力学新方法。它舍弃了传统的拍摄冲印照片复杂的湿处理过程，而直接依靠光学成像系统和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法已得到了较广泛的运用。用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。
TS-SI-1Z型一维电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定，易于调节，可以获得很好的教学效果。
TS-SI-1Z型一维电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定，易于调节，可以获得很好的教学效果。
其他说明
| 主要技参数指标: ◆ 光源:半导体泵浦固体激光器(绿光) 输出功率 20mw , 波长 532nm ◆ 相机: 1280 × 1024 U2.0 数字摄像头 ◆ 镜头: 25mm 定焦镜头(标配),可选配其它 C 接口镜头 ◆ 工作距离: 400 ~ 1500mm ◆ 相移器: 5nm ◆ 演示试件: 圆盘受均布载荷,三点弯曲梁 ◆ 范围:￠ 300mm ◆ 尺寸: 650cm × 430cm × 300cm ◆ 重量:约 20kg |
