电子散斑干涉是继全息干涉之后发展起来的一种实验力学新方法。它舍弃了传统的拍摄冲印照片复杂的湿处理过程，而直接依靠光学成像系统和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已得到了较广泛的运用。用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。
TS-SI-1X型一维电子散斑干涉仪能实时观察代表面内位移的干涉条纹，配以稳定的悬臂梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定，易于调节，可以获得很好的教学效果。
TS-SI-1X型一维电子散斑干涉仪能实时观察代表面内位移的干涉条纹，配以稳定的悬臂梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定，易于调节，可以获得很好的教学效果。
其他说明
| ◆ 光源:半导体泵浦固体激光器(绿光) , 输出功率 20mw , 波长 532nm . ◆ 相机: 1280 × 1024 U2.0 数字摄像头. ◆ 镜头: 25mm 定焦镜头(标配),可选配其它 C 接口镜头. ◆ 工作距离: 400 ~ 100mm . ◆ 相移器: 5nm . ◆ 演示试件: 圆盘受均布载荷,悬臂梁受集中力. ◆ 范围:￠ 300mm ◆ 尺寸: 650mm( 长 ) × 430mm (宽)× 300mm (深). ◆ 重量: 24kg . |
