供半导体测厚仪X射线荧光

─美国博曼(Bowman)配有功率X射线光管和高灵敏度探测器，能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。
─电制冷固态探测器的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。探测器灵敏窗口大幅了计数率，大多数的分析能在数秒或数分钟内完成。灵活组合运用五个初级滤波器，使X光管激发效率，得到优的应用效果。
─仪器测量直径小可150微米，可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音，从而更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测 。
─仪器在设定的检测程序中可通过扫瞄功能性快速分析大面积的指定区域。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。扫瞄分析及元素分布成像功能能够快速识别复杂组件中的含铅的部件或连接件。该款仪器内置数码影像装置，能够显示样品摆放位置及测试点位置。样品扫瞄映射成像图中可对各种待测元素设置不同颜色，然后形成单种或多种元素的组成及含量分布图。
─根据不同应用，您可以选择不同的分析方法：经验系数法、基本参数法或两者结合。如果您知道分析物的元素组成矩阵和含量范围，经验系数法是合金分类和元素含量分析的检测方法。当无法预知准确的元素组成或标准片不情况时，可选用基本参数法，通过仪器拥有的完整光谱数据库，对基材和镀层进行可信的厚度测量和元素定量分析，测试范围可以ppm至%。
─自由距离测量及型样品舱数据统计大，包括平均值、标准偏差、柱状图和管理图表。数据及时导出，可以保存为Excel格式，并快速生成分析。用户能设置快捷键，对样品进行一键校准。用户界面提供9种操作言言大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范围内自由调节聚焦距离，来实现对样品不同表面的测量。样品舱内部空间580mmx510mmx230mm。封闭样品舱设计能彻底辐射污染，针对塑料等轻质样品的检测过程而设计。大舱门使样品更易放入。
─自定义程序能通过自定义清晰显示样品测试是否合格或不合格，还可设置其他针对特定被测元素的报警程序。生成软体，可证明用户在检测消费品是否含有有害元素的过程中所采取的尽职措施
简    单：-直接测量(无需校准即可满足大部分应用)
-单手菜单操作
灯光提示：-便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果
-重置功能可将测厚仪还原到出厂状态
耐    用：-探头
-酸、油、水、溶剂、尘，合或过IP5X标准
-腐蚀液晶显示屏
-撞击橡胶保护套
精    确：-每台仪器都有校准证书，合NIST标准
-内置温度补偿以测量
-高分辨率模式可显示分辨率
-合美国和国际标准，包括ISO和ASTM标准
多 功 能：-多种校准模式，包括一点、两点、点校准
背光显示：-公制英制单位互换
多种语言显示：-包括中文