声波测厚仪数显声波测厚仪

深圳金东霖器是一家拥有CMI900维修以及CMI仪器、配件销售资格的牛津代理商，拥有专职的CMI900维修以及CMI仪器的服务工程师，可为广大的客户解决CMI900维修以及CMI仪器相关问题。
CMI900镀层膜厚测量仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量  ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
波    长: 250-1100nm
　　厚度范围: 10nm--250m
　　分 辨 率: 0,1nm
　　重 复 性: 0,3nm
　　准 确 率: <1[%] (100nm--100m)
　　测试时间: 100ms -- <1s
　　分析层数: 1-- 4
　　
入射角度: 90°
离光纤距离: 1-5mm
　　离镜头距离: 5mm-- 100mm
　　光斑点大小: 400m
　　微光斑手段: 与显微镜联用,1-- 20m with Microscope 10x/20x/50x Magnification and MFA-Adapter;
　　光纤长度: 2m (other lengthes on request)
　　接      口: U 1.1 (RS-232)
　　电源  需求: 12 VDC@1,2A, 220 VAC 50/60 Hz
　　
尺      寸: 180mm x 152 mm x 263mm
　　总      量: 3.5 kg>
膜厚仪的使用场合 ：薄膜工 业的在线过程控制等等许多场合。
　　膜厚仪主要应用于晶片或玻璃表面的介电缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...); 晶片或玻璃表面金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...); DLC(Diamond  Like Carbon)硬涂层;SOI硅片; MEMs 厚层薄膜(100m up to 250m); DVD/CD 涂层; 光学镜头涂层; SOI硅片; 金属箔; 晶片与Mask间气层; 减薄的晶片(< 120m); 瓶子或器等带弧度的涂层;