半导体元器件静电放电发生器

　　产品介绍
　　静电放电发生器专门为IC、LED等半导体器件的静电测试而设计，仪器集成人体放电模式（HBM）和机械放电模式（MM）通过更换阻容模块来实现两种测试功能。
　　标准
　　MIL-STD-883E、METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、G-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399
　　
　　优点
　　1.液晶显示，智能控制高压输出，体积小，重量轻，操作方便；
　　2.内置温湿度传感器，及时记录现场试验环境；
　　3.电子式高压电源，电压稳定高；
　　4.内置单片机控制，稳定，操作方便；
　　5.主开关采用美国原装；
　　6.正负性自动切换；
　　7.RS-232接口，PC控制操作
　　
　　参数
　　型号
　　D-606G
　　
　　项目
　　MIL-STD-883E
　　METHOD3015.7 IEC747-1
　　EIAJED-4701 ConditionA
　　
　　输出电压
　　0—8KV&plun;5%
　　
　　输出电压性
　　正/负
　　
　　放电电容
　　人体模式：100pF
　　机械模式：200pF
　　
　　放电电阻
　　人体模式：1.5kΩ
　　机械模式：0 Ω
　　
　　工作形式
　　放电时间间隔在0.1~99.9s之间，
　　
　　操作方式自由切换
　　
　　单次放电，连续放电，手动操作，自动放电
　　
　　放电次数设定
　　1~9999
　　
　　放电间隔
　　0.1~9.9s
　　
　　工作电源
　　AC220V&plun;10%，50Hz
　　
　　环境温度
　　15-35℃
　　
　　外形尺寸
　　466&tim;356&tim;186mm