荧光测金仪，EXF6306黄金，铂金纯度检测仪（便携手提式）
技术指标：
分析范围：10％～99.99％
测量时间：自适应30～100秒
测量：0.2％
测试环境：常温常态
分析元素：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd），铜（Cu）铑（Rh），钌（Ru），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD）
X射线源：X射线光管（风冷）
测量点尺寸：1～2mm
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
操作系统：Windows2000／XP
电压：200V／50Hz
尺寸：500mm×350mm×250mm
重量：30kg
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
硬件特性：合严格的辐射护标准
样品室：单独的样品室，简易的样品放置和耗材更换模式，配置固定样品用多轴向夹具。
探测器：固定式半导体封气正比计数器
微处理器控制的探测器和读出电路。
镀层测量：
镀层厚度范围：＜30μm
可测量元素种类：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd）铑（Rh），铜（Cu），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD）
测量层数：5层
测量：0.03μm
标准配置：
单样品室
放大电路
高低压电源
X光管
计数器
技术指标：
分析范围：10％～99.99％
测量时间：自适应30～100秒
测量：0.2％
测试环境：常温常态
分析元素：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd），铜（Cu）铑（Rh），钌（Ru），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD）
X射线源：X射线光管（风冷）
测量点尺寸：1～2mm
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
操作系统：Windows2000／XP
电压：200V／50Hz
尺寸：500mm×350mm×250mm
重量：30kg
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
硬件特性：合严格的辐射护标准
样品室：单独的样品室，简易的样品放置和耗材更换模式，配置固定样品用多轴向夹具。
探测器：固定式半导体封气正比计数器
微处理器控制的探测器和读出电路。
镀层测量：
镀层厚度范围：＜30μm
可测量元素种类：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd）铑（Rh），铜（Cu），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD）
测量层数：5层
测量：0.03μm
标准配置：
单样品室
放大电路
高低压电源
X光管
计数器
