光谱测金仪(EXF7200)

　　光谱测金仪（EXF7200黄金，铂金纯度检测仪）液晶显示增强型
　　技术指标：
　　分析范围：10％～99.99％
　　测量时间：自适应30～50秒
　　测量：&plun;0.1％
　　测试环境：常温常态
　　可分析元素：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd），铜（Cu），铑（Rh），钌（Ru），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD），根据元素能量表可观察以上出各元素的图谱。
　　
　　X射线源：X射线光管（风冷）
　　测量点尺寸：1～2mm
　　高压器：4～50Kv
　　分析：多通道模拟
　　电压：100～127或200～240V，50／60Hz
　　尺寸：500＊500＊350mm（处）
　　重量：35kg
　　操作系统：Windows2000／XP
　　
　　镀层测量：
　　镀层厚度范围＜30μm
　　测量层数：5层
　　测量：0.03μm
　　
　　仪器配置：
　　X光管
　　正比计数探测器
　　高压电源
　　放大电路
　　液晶显示屏幕
　　摄像定位系统
　　
　　产品特点：
　　1）仪器
　　，本公司各款测金仪价格，低于市场上任何一款同类产品的价格。本产品采用技术成果，了性能，节省了成本。
　　
　　2）测量元素，涵盖贵金属行业补口数据库
　　能够测量：金Au（包括K金），铂金PT，白银AG，钯金Pd，铑Rh，铜Cu，锌Zn，镍Ni，钨W等金属元素。
　　
　　3）快速定性定量判断
　　1～3秒可以对饰做定性判断，30秒检测出结果。度可以0.1％，风冷散热循环系统，稳定，重现指标高。
　　
　　4）将的摄像定位技术引入珠宝检测领域
　　该摄像定位系统除让饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将饰被检测到的位置的图片信息，连同计算一起打印出来。
　　
　　5）售后服务遵循仪器仪表规定
　　产品实行仪器仪表“三包”，一年保修，三月包换，终生维护，终生软件升级。