X荧光光谱仪 (NAU1000)

　　型号：NaU1000
　　新品（免拆分）
　　应用领域
　　RoHS指令筛选检测
　　分析方法及系统软件
　　分析方法配置：
　　基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
　　经验系数法
　　理论α系数法
　　软件功能描述：
　　RoHS指令、无卤指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
　　各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
　　聚合物等材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
　　分析的自主定制与输出打印
　　分析结果的保存、查询及统计
　　On-Line实时在线技术支持与技术服务功能（选配）
　　多层镀层厚度测量功能（选配）
　　主要配置
　　美国Si-PIN电制冷半导体探测器
　　侧窗钼（Mo）靶管
　　标配12组复合滤光片
　　配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
　　具备合中国标准的样品混侧功能
　　内置标准工作曲线
　　具备开放工作曲线技术平台
　　分析软件操作系统分级管理
　　产品参数
　　名称：X荧光光谱仪
　　型号：NaU1000
　　输入电压：220&plun;5V/50Hz
　　消耗功率：≤500W
　　环境温度：15-30℃
　　环境湿度：≤80%（不结露）
　　主机外形（mm）：长＊宽＊高＝820*500*425
　　样品仓（mm）：长＊宽＊高＝430*380*105
　　主机重量：约55公斤
　　技术指标
　　元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
　　测量时间：
　　对聚合物材料，典型测量时间为300秒
　　对铜基体材料，典型测量时间为600秒
　　检出限指标（LOD）：
　　对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
　　对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：
　　对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg
　　对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　准确度指标，以系统偏差δ进行表征
　　对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg；δ（Hg）≤100mg/Kg；δ（TBr）≤100mg/Kg；δ（TCr）≤100mg/Kg；δ（Cd）≤10mg/Kg