集成电路高温动态老化系统
★合标准：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、G548、G597等试验标准。
★适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点：
●一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
●强大的图形发生系统，64路数字和2路模拟可编程信号。
●完善的、种类的老化器件数据库可供用户调用。
★技术性能
产品型号 | BIC64-16 | BIC64-8 |
产品名称 | 集成电路高温动态老化系统 | |
高温试验箱 | PEC产PH-201大容量高温试验箱1台套，内箱尺寸：60cm&tim;60cm&tim;60cm，水平风道设计。 | PEC产LC-213高温箱一台，内箱尺寸：45cm&tim;45cm&tim;45cm，垂直风道设计。 |
试验区域 | 16个（一板一区） | 8个（一板一区） |
试验容量 | 200&tim;16=320位（以DIP14为例） | 136&tim;8=1088位（以DIP14为例） |
电源 | 8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选 | 4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选 |
二级电源 | ◆每个通道提供程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。 ◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。 ◆输出能力：&plun;1.00V～&plun;18.00V/10A。 ◆电源监测：实时监测记录二级电源的电压，并可生成图形曲线，便于试验监控。 | |
数字信号
| ◆每个通道：64路数字信号。 ◆编程能力：编程深度256Kbit；小编程步长：100ns；编程分辨率：100ns；信号频率：5MHz。 ◆寻址能力：可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35,可寻址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，A：A00～A17。 ◆信号特性：每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。 ◆驱动能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。 | |
模拟信号 | ◆模拟信号数：2路 ◆波形类型：正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。 ◆模拟信号指标：信号可编程频率：1Hz～32KHz；程控幅度范围Vpp：0～&plun;10V； 直流偏移量范围Vdc：0～1/2 Vpp；编程步长: 0.01V；驱动能力：≥1.0A； | |
机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口，强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能，试验状况一目了然，方便用户查验。 | |
要求 | 单相AC220V，6KW | 单相AC220V，3KW |
外形尺寸 | WхHхD：140х188х132（cm） | WхHхD：105х188х112（cm） |
重量 | 约500kg | 约300kg |
