分立器件综合老化系统
★合标准：MIL-STD-750D、G128等试验标准。
★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二管、三管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。
★技术特点：
●适用范围广，可满足多种分立元器件的常温寿命老化。
●具有手动、自动加电模式。
★技术性能
产品型号 | OPL–616C | OPL–608C |
产品名称 | 分立器件综合老化系统 | |
试验腔体 | 2∽8个，水平风道，强迫风冷，风机转速可调 | 1∽4个，水平风道，强迫风冷，风机转速可调 |
试验通道 | 16个 | 8个 |
试验容量 | 64×16=1024位 | 64×16=512位 |
电源 | 8∽16台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格 | 4∽8台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格 |
驱动检测板 | 16块 | 8块 |
温度检测 | 系统检测记录试验腔体的温度，可生成温度变化曲线，并具有温保护功能。 | |
机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、键盘及鼠标。 | |
基本功能 | ◆试验电流、电压参数上限设定、老化时间设定。 ◆实时监测显示老化参数（I、V、Ta）及老化时间、老化进度。 ◆实时记录保存老化参数（I、V、Ta）。 ◆实时判断是否限，限报警并记录限工位及间。 ◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。 | |
要求 | 单相AC220V，6KW | 单相AC220V，3KW |
外形尺寸 | WхHхD：140х188х126（cm） | WхHхD：105х188х112（cm） |
重量 | 约500kg | 约300kg |
