◆ 产品通用性高，换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13mm 长度≤14mm）；
◆ 产品设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，
减少误测；
◆ 有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高自适应弹簧每个IC平衡下压；
◆ 采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，更高的使用寿命；
◆ 采用台湾厂家生产的内存颗粒测试PCB，金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的10倍，测试治具有更好
的导通和性,相比同类产品具有更好的频性能及使用寿命；
◆ 采用带定位孔内存颗粒测试PCB，探针板与PCB孔定位，探针与PCB定位，如有损坏用户可自行更换
维修 ,
简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；
◆ 采用短双头探针设计，相比同类测试产品使IC与PCB之间数输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，
DDR3系列频率可达2000MHZ；
◆ 探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便维护，为生产争取宝贵
时间；
◆ 高合金IC定位框，IC定位，取放IC方便，从而测试效率；
◆ 测试寿命长，测试10万次以上；（视使用环境及相关操作而定）；五金件保修;
◆ 内存颗粒测试治具测试规格：DDR2X8 DDR3X8性可测试8/16颗内存颗粒；
◆ 可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具;
◆ 可以提供相关的技术支持。
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