蓝宝石膜厚测试仪
■利用反射干涉的原理进行无损测量
■可测量薄膜厚度及光学常数,测量达到埃级的分辩率
■操作简单,界面友好,是 目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备
■设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm 到1700nm可选
■并有手动及自动机型可选,应付不同 的研发或生产要求
√GaN厚度 | √光阻胶厚度 |
√SiO2厚度 | √ 穿透率 |
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北京羲和阳光科技发展有限公司
免企业未认证证营业执照未上传
经营模式:工厂
所在地:北京
主营产品:硅料检测分选仪;硅片电阻率测试仪;薄膜方块电阻率测试仪;硅芯/硅棒电阻率测试仪;少子寿命测试仪;
蓝宝石膜厚测试仪
■利用反射干涉的原理进行无损测量
■可测量薄膜厚度及光学常数,测量达到埃级的分辩率
■操作简单,界面友好,是 目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备
■设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm 到1700nm可选
■并有手动及自动机型可选,应付不同 的研发或生产要求
√GaN厚度 | √光阻胶厚度 |
√SiO2厚度 | √ 穿透率 |