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半导体器件性能表征系统 型号：进口 该半导体器件性能表征系统是一个可以提供精密电流源、电压源和测试功能的测试系统，为半导体器件和测试结构的直流参数测试、实时绘图与分析提供了一套完整的方案，具有高和亚fA 级的分辨率，可广泛应用于各类新材料、薄膜材料、异质结构等光电子材料及器件的电学性质和物理特性的研究。 | ||
| 特点 | ||
| ■直观的、点击式Windows 操作环境； ■独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA； ■内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储； ■独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试； ■支持多种外围设备； ■用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充。 | ||
| 技术参数 | ||
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■电压测量范围：1μV-200V，电压测量小分辨率为1μV； | ||
| 应用 | ||
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北京羲和阳光科技发展有限公司
免企业未认证证营业执照未上传
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