岩石纳米 煤球纳米 混泥土纳米 分辨率可达500nm。
X射线断层扫描仪 岩石扫描纳米 混泥土断层扫描纳米 煤柱断层扫描纳米 纳米焦点三维扫描系统 x射线显微镜 X射线三维显微镜 全岩心三维扫描仪 X射线高分辨工业
纳米作为新一代的高分辨率透视检测技术平台，采用了双探测器设计方案（如下图所示），分别是率平板探测器和率光耦探测器。用户可以根据不同的测样需求切换两套光路系统，可以利用平板探测器对样品进行大范围整体观察，视野可达130mm，找到特征目标区域，然后利用光耦探测器对目标区域进行高分辨成像，且具有多种不同放大倍率可供选择.
平板探测器依据普通光学投影放大原理，如下图，样品的几何放大倍率取决于光源到样品和探测器相对位置距离的比例关系。
在普通显微系统上要获得高的放大倍率，须要使样品无限靠近光源，这对于较大样品扫描时产生的旋转半径，以及进行原位装置搭载实验的用户，具有很大的局限性。无法满足他们希望获得高放大倍率的需求。
光耦探测器依据二级光学放大原理，如下图，基于投影放大原理实现的光学放大，再通过一系列光学物镜，形成的二级光学放大，实现样品无需靠近光源，即可满足用户获得高放大倍率的需求。
设备分辨率500nm
样品尺寸 300nm
检测样品重量 2kg/15kg可选
多种扫描成像模式 旋转扫描，螺旋扫描 ，偏置扫描 ，角度扫描，视野扫描等
微焦x涉嫌管电压 90kv/150kv/190kv
另有多款60kv-300kv(可选)
双探测器
高分辨物镜耦合探测器 镜头 4倍 10倍 20倍，40倍 可选
分辨率2048*2048 16bit 热电冷却-55°
平板探测器 250*200mm/130*130mm
克拉克（中国）有限公司 提供
