主要特点
| 1. | 实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！ | | | Ⅰ | 采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率在149eV以下。(业界 | | 的分辩率). | | Ⅱ | 新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波 | | 峰背景的低减与避免共存元素影响。 | | 2. | 内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！ | | | Ⅰ | 通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用。一般的保守也简单。 | | Ⅱ | 可针对Cl的检量线，检测限可达9个PPM，无卤测试要求。 | | 3. | 简单方便的操作系统 | | 2 | Ⅰ | 按一键就完成测定!自动保存结果。一键生成 | | 4. | 材料元素 Monitoring 系统。 | | | Ⅰ | 实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界多补正功能。满足样 | | 品基材多样性需求。 | | 5. | 采用300mmφ 大型样品室，自动样品样品仓门。 | | 3 | Ⅰ | 大样品可以直接放入様品室。自动样品仓门更好密封样品室。 | | |
其他功能
| 1. | 分析結果報告軟體：測試自動保存結果，並可一鍵生成報告。（標配） | | | 2. | 鍍錫分析軟體（可選） | | | Ⅰ | 無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析困難，使用該軟體可以簡單進行非破壞分析，並 | | 進行鍍層厚度修正分析準確。 | | 3. | 鍍鎳分析軟體（可選） | | 23 | Ⅰ | 非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進行鍍層厚度修正分析準確。成功地去除了背底 | | 的影響。 | | Ⅰ | |
技術參數
| 元素範圍 | Na11 - U92 | | 解析度 | 保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF) | | X射線管 | 5-50kV, 1mA, 50W | | 靶材 | Rh靶 | | 濾波機構 | 4種自動交換(包括Open) | | 准直器 | 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ | | 探測器 | 液氮製冷型Si(Li)半導體探測器 | | 液氮 | 3升（消耗量1升/日以下）僅使用 | | 樣品室尺寸 | 300 mmΦ x 150mmH | | 樣品室環境 | 大氣， 真空（可選） | | 作業系統 | Windows XP，19寸彩色顯示器 | | 主要附件 | 能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品 | | 設備電源 | 單相AC100V±10%，單相AC220V±10% |
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