产品概述：
粗糙度测量 | |
评定参数 | Ra. Ry. Rz. S. Sm. tp |
仪器型号 | Cx-1(G) |
测量范围 | Ra 0.01μm-10μm |
触针位移 | ±500μm |
分 辨 率 | 0.001μm |
示值误差 | ≤3%±5nm |
轮廓测量 | |
仪器型号 | Cx-1(G) |
使用范围 | x0 |
测量范围 | x0 |
分 辨 率 | |
半径误差 | 1%-0.2% |
外形尺寸 | 100×58×136(mm) |
净 重 | 约 |
注：轮廓测量范围分别有± | |
CX系列粗糙度轮廓仪 （优化系列）
CX系列粗糙度轮廓仪采用的一体化传感器，并更新优化了操作软件，使仪器测量更，重复性更稳定，使用更方便。更有大规格测量仪器供新老用户选择。
CX/100粗糙度轮廓仪
粗糙度测量 | |
评定参数： | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp |
测量范围： | Ra 0.01μm-10μm |
触针位移： | ±500μm |
分 辩 率： | 0.001μm |
示值误差： | ≤3%±5nm |
轮廓测量 | |
使用范围： | X:0 |
测量范围： | X:0 |
分 辩 率： | 0.001μm、0.1μm |
半经误差： | 0.1% - 0.8% |
CX/160粗糙度轮廓仪
粗糙度测量 | |
评定参数： | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp |
测量范围： | Ra0.01μm-10μm |
触针位移： | ±500μm |
分 辩 率： | 0.001μm |
示值误差： | ≤3%±5nm |
轮廓测量 | |
使用范围： | X:0 |
测量范围： | X:0 |
分 辩 率： | 0.001μm、0.1μm |
半经误差: | 0.1% - 0.8% |
