MarSurf XR 1 表面测量系统性价比高，是面向未来的表面测量技术。根据测量任务，测量站可进行滑块和非滑块测量。
MarSurf XR 1 可配置MarSurf RD18和MarSurf SD26的驱动单元，为简易的粗糙度测量提供两种不同的测量站，同时实现多样化
连接软件的可能性。设备和软件相结合，使得现代计算机操作实现了测量和评价的所有要求。符合国际标准，多种评价方法，广
泛的测量报告，大容量的存储，数据的导出导入以及其他联网系统都是当今基于计算机平台系统的基本需求。
MarSurf XR 1. 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的***成就。
超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
带通滤波器 Ls 符合当前标准；Ls 也可根据需要关闭或更改。
***的测量记录
快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
根据标准选择截止和扫描长度的自动功能（**）
通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态和动态）
可调维护和校准间隔
多种测量站配置可使用自定义应用
多种选项，提高系统灵活性
