耐用且价廉的X射线荧光测试仪器，可测量镀层厚度和进行材料分析.
特点
- 用于电镀行业中的镀层厚度测量
- 固定的准直器和固定的基本滤片
- X射线管配有稍大的主光斑，适合测量约1 mm 以上的测量点
- 量光束产生较少射线，然而，对于传统的电镀层如铬、镍、铜等镀层的测量，不会有任何问题。
- 从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品
- 底部C型开槽的大容量测量舱
- 标准X射线管，比例计数器
典型应用领域
- 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
- 电子行业中接插件和触点上的镀层
- 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
- 电镀镀层，如大规模生产件（螺栓和螺母）上的腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
- 珠宝和钟表工业
- 测量电镀液中金属成分含量
对于CHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列来
说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样
可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口
也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操
作，是在日常生产中测量大量部件时有
用。
尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量
室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计
（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整
的样品，即使这些样品可能无法放入测量
室。
样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位
更高的手动XY工作台上。
XUL和XULM都配备了比例接收器；但是它们配
备的X射线管，滤片和准直器是不同的。便宜耐
用的XUL配备了一个准直器和一个固定的滤片。
内置的标准X-RAY管产生的基本射线光束较大；
因此小可用的准直器为0.3 mm。基于光线的
扩散，小的测量点在0.7 mm – 1mm左右。
