400波長以上的多频分光法,量測出椭圆偏光光谱。
自由变换反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析数据。
反射角度自动可变的测量方式,對薄膜测量有更高的分析。
搭载有薄膜解析所需的全角度同時测量功能。
测量晶圆与金属表面的光学常数(n:屈折率,k:衰減係數)。
橢圓偏光儀 FE-5000反射式膜厚量測儀 FE-3000
膜厚光譜分析儀系統 MCPD series
膜厚分析儀FE-300
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刘飞峰
免企业未认证证营业执照未上传
经营模式:工厂
主营产品:LED光学检测仪器;LCD检测设备;膜厚测量仪;光检测积分半球;光检测积分球;平面显示器检测设备;LED在线检测设备;高性能光纤光谱仪
自由变换反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析数据。
反射角度自动可变的测量方式,對薄膜测量有更高的分析。
搭载有薄膜解析所需的全角度同時测量功能。
测量晶圆与金属表面的光学常数(n:屈折率,k:衰減係數)。