可更加精確的量測微小相位差（0.1nm～）。
適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角（光學軸）或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。
檢測器採用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的高相位差量測。
可選配傾斜式、旋轉式量測平台，評估三次元折射率參數解析等視野角特性。
配合量測樣品，自由架構量測平台。
液晶層間隙檢查機 RETS series雙折射相位差光譜分析儀系統 MCPD series低相位差檢查機 RE-100
刘飞峰
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