可測量从0nm开始的低相位差（殘留應力）。
检测光学轴的同时，同步測量相位差 (Re.)。(世界速0.1秒以下的测量解析)
偏光检测仪驱动干扰，可再現性测量。
无需复杂参数设定，操作简单易懂。
550nm以外，亦可支持其它波長测量。
Rth测量、全角度测量。(需搭配自动旋转傾斜装置)
搭配拉力测试机可同時测量薄膜偏光特性与光弹性。(此系統为規格)
液晶层间隙检查机 RETS series 相位差测量检测机 RETS-100
RE-100为采用光結晶像素与CCD感測器所构成的偏光检测仪。搭配帶有穿透率性质的各式偏光元件，可以同時进行相位差与光学轴的测量。
CCD感測器会自动撷取经过偏光后所呈現的画面，不需要任何的驱动轴來寻找偏光后的受光強度。不但可再現性的、更具备长时间使用的安定性。
■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、視野角膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(玻璃残留应力)
■ 視野角膜 A
■ 視野角膜 B
■ 自动旋转倾斜装置
偏光检测仪在生产线上的应用 (In-line Process)
■U传输，可适用于多种环境的架设。
■速测量，适用于生产线中的即使监控。
■可搭配复数偏光检测仪，同时进行多点位、多角度(Rth)测量。
