TRACEIT 便携式三维形貌仪
我公司设计了世界上台便携式光学三维形貌仪，10秒钟即可测量材料表面的三维轮廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接触面积，并同时原位记录材料表面的视觉图像。我公司有两款便携式三维形貌仪（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，准确的测量方法几乎可以在任何地点进行测量，广泛应用于产品的质量检验和研发中。
应用领域
♦ 对文物清洗效果进行无损检测、评估
♦ 修复、加固效果评估
♦ 古代纸张、丝织品分析鉴定
♦ 用于考古现场记录
♦ 汽车、航空、船舶工程（皮革、纺织品、涂装、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便携式光学三维形貌仪基本介绍
TRACEiT®-MICRO便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头和专用便携式电脑，在5mm × 5mm范围内对x及y方向各进行高达1500次的测量，从而得出平均数值及标准偏差。 同时，设备的专用软件还可进一步评估特定范围内材料表面的性能。该仪器拥有封闭式设计，因此其测量结果重复性和再现性高。
设备优点
★ 高
★ 快速测量
★ 便携式设计
★ 多参数数据分析
★ 重复性、再现性高
★ 技术可同时测量三维形貌和视觉效果
技术参数
基本介绍
TRACEiT-MIDI®便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头，专用便携式数据采集系统，ipod操作控制系统。测量范围可达标准A4纸，度可达100um。 同时，专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能。
设备优点
¤ 便携式设计
¤ 技术可同时测量三维形貌和视觉效果
¤ 同时3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重复性、再现性高
¤ 快速测量
¤ 多参数数据分析：粗糙度，高度，深度等
技术指标
备选设备
COPRA® 扫描计算系统
该系统可以用来计算材料的
☆ 表面结构
☆ 涂层
☆ 印压
☆ 磨耗及磨损
☆ 颗粒度及孔隙度
该扫描计算系统特别设计用来整理及评估磨损结果，亦可用于评估其他各种表面的特性。计算参数包括：
♦ 颗粒度分布（数量、面积、大小及百分比）
♦ 平均值（包含标准偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰阶表面形貌影像的高度分析
♦ 方位长度剖面
♦ 磨耗及磨损分析
我公司设计了世界上台便携式光学三维形貌仪，10秒钟即可测量材料表面的三维轮廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接触面积，并同时原位记录材料表面的视觉图像。我公司有两款便携式三维形貌仪（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，准确的测量方法几乎可以在任何地点进行测量，广泛应用于产品的质量检验和研发中。
应用领域
♦ 对文物清洗效果进行无损检测、评估
♦ 修复、加固效果评估
♦ 古代纸张、丝织品分析鉴定
♦ 用于考古现场记录
♦ 汽车、航空、船舶工程（皮革、纺织品、涂装、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便携式光学三维形貌仪基本介绍
TRACEiT®-MICRO便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头和专用便携式电脑，在5mm × 5mm范围内对x及y方向各进行高达1500次的测量，从而得出平均数值及标准偏差。 同时，设备的专用软件还可进一步评估特定范围内材料表面的性能。该仪器拥有封闭式设计，因此其测量结果重复性和再现性高。
设备优点
★ 高
★ 快速测量
★ 便携式设计
★ 多参数数据分析
★ 重复性、再现性高
★ 技术可同时测量三维形貌和视觉效果
技术参数
| 度 | 1.5µ m |
| 测量面积 | 5 mm × 5 mm |
| 测量时间 | 10秒 |
| Z轴测量高度 | 800µ m |
TRACEiT-MIDI®便携式光学三维形貌仪
基本介绍
TRACEiT-MIDI®便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头，专用便携式数据采集系统，ipod操作控制系统。测量范围可达标准A4纸，度可达100um。 同时，专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能。
设备优点
¤ 便携式设计
¤ 技术可同时测量三维形貌和视觉效果
¤ 同时3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重复性、再现性高
¤ 快速测量
¤ 多参数数据分析：粗糙度，高度，深度等
技术指标
| 度 | 100µ m |
| 测量面积 | 30mm× 20 mm |
| 测量时间 | 10秒 |
| Z轴测量高度 | 800 mm |
备选设备
COPRA® 扫描计算系统
该系统可以用来计算材料的
☆ 表面结构
☆ 涂层
☆ 印压
☆ 磨耗及磨损
☆ 颗粒度及孔隙度
该扫描计算系统特别设计用来整理及评估磨损结果，亦可用于评估其他各种表面的特性。计算参数包括：
♦ 颗粒度分布（数量、面积、大小及百分比）
♦ 平均值（包含标准偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰阶表面形貌影像的高度分析
♦ 方位长度剖面
♦ 磨耗及磨损分析
