XULM 型X 射线光谱仪有着出色长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。
本款仪器适合在质保、来料检验和过程控制等领域中使用，
典型的应用领域有：
? 十分微小部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
? 印制线路板上手动测量
? 珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
设计理念
CHERSCOPE X-RAY XULM 设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根
据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：
XULM： 固定平面平台
XULM XYm： 手动X/Y 平台
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM 光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量
更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的
印制线路板等。
通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括
测量结果的数据分析和相关信息的显示等。
XULM 型光谱仪是型式许可合德国”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求
的，有完善护措施的测量仪器。
XULM®
3
通用规范
用途 能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析
可测量元素范围 从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24 种元素
设计理念 桌上仪器，向上开启舱门
测量方向 由下往上
X 射线源
X 射线靶材 带铍窗口的微聚焦钨管
高压 三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器） 4 个可切换准直器：
标准型(523-440)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm
可选 (523-366)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；? 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm
可选 (524-061)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它规格
基本滤波片 3 种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝）
测量点大小 取决于测量距离和使用的孔径大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用
矩形0.05 x 0.05mm 准直器，小的测量点面积约为? 0.1 mm。
测量距离，如样品为腔体时 0 ~ 20 mm，校准范围，使用保护的DCM 功能
20 ~ 27.5 mm，非校准范围，使用保护的DCM 功能
X 射线探测器
X 射线接收器 比例计数器
二次滤波器 可选：钴滤波器或镍滤波器
样品定位
视频显微镜 高分辨 CCD 彩色摄像头，可用来观察测量位置
十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域的LED 照明亮度可调节
放大倍数 38 x ~184x (光学变焦: 34x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品平台 XULM XULM XYm
设计 固定样品平台 手动XY 平台
X/Y 方向可移动范围 - 50 x 50 mm
样品放置可用区域 250 x 280mm
样品重量 2kg
样品高度 240mm
CHERSCOPE® X-RAY XULM®
镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试
电气参数
线电压，频率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
能耗 为 120 W (测量头重量，不包括计算机)
保护等级 IP40
尺寸大小
外部尺寸 宽x 深x 高[mm]：395 x 580 x 510
重量 约45 kg
内部测量舱尺寸 宽x 深x 高[mm]：360 x 380 x 240
环境条件要求
测量时温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
存储或运输时温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气相对湿度 ≤ 95 %，无结露
计算单元
计算机 带扩展卡的Windows®个人计算机系统
软件 标准配置：cher WinFTM® LIGHT
可选配置：cher WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
执行标准
CE 合格标准 EN 61010
X 射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
批准 型式许可合德国”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的，有完善护措
施的测量仪器。
本款仪器适合在质保、来料检验和过程控制等领域中使用，
典型的应用领域有：
? 十分微小部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
? 印制线路板上手动测量
? 珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
设计理念
CHERSCOPE X-RAY XULM 设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根
据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：
XULM： 固定平面平台
XULM XYm： 手动X/Y 平台
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM 光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量
更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的
印制线路板等。
通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括
测量结果的数据分析和相关信息的显示等。
XULM 型光谱仪是型式许可合德国”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求
的，有完善护措施的测量仪器。
XULM®
3
通用规范
用途 能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析
可测量元素范围 从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24 种元素
设计理念 桌上仪器，向上开启舱门
测量方向 由下往上
X 射线源
X 射线靶材 带铍窗口的微聚焦钨管
高压 三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器） 4 个可切换准直器：
标准型(523-440)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm
可选 (523-366)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；? 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm
可选 (524-061)：圆形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它规格
基本滤波片 3 种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝）
测量点大小 取决于测量距离和使用的孔径大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用
矩形0.05 x 0.05mm 准直器，小的测量点面积约为? 0.1 mm。
测量距离，如样品为腔体时 0 ~ 20 mm，校准范围，使用保护的DCM 功能
20 ~ 27.5 mm，非校准范围，使用保护的DCM 功能
X 射线探测器
X 射线接收器 比例计数器
二次滤波器 可选：钴滤波器或镍滤波器
样品定位
视频显微镜 高分辨 CCD 彩色摄像头，可用来观察测量位置
十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域的LED 照明亮度可调节
放大倍数 38 x ~184x (光学变焦: 34x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品平台 XULM XULM XYm
设计 固定样品平台 手动XY 平台
X/Y 方向可移动范围 - 50 x 50 mm
样品放置可用区域 250 x 280mm
样品重量 2kg
样品高度 240mm
CHERSCOPE® X-RAY XULM®
镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试
电气参数
线电压，频率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
能耗 为 120 W (测量头重量，不包括计算机)
保护等级 IP40
尺寸大小
外部尺寸 宽x 深x 高[mm]：395 x 580 x 510
重量 约45 kg
内部测量舱尺寸 宽x 深x 高[mm]：360 x 380 x 240
环境条件要求
测量时温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
存储或运输时温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气相对湿度 ≤ 95 %，无结露
计算单元
计算机 带扩展卡的Windows®个人计算机系统
软件 标准配置：cher WinFTM® LIGHT
可选配置：cher WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
执行标准
CE 合格标准 EN 61010
X 射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
批准 型式许可合德国”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的，有完善护措
施的测量仪器。
