表面粗糙度测量仪（TH-115型）

天华TH-115型表面粗糙度测量仪是用于测量工件表面粗糙度的精密测量设备，主要由光切显微镜﹑CCD﹑视频采集模块﹑控制模块﹑步进电机、计算机、打印机等部分组成，系统采用光切原理对工件进行非接触测量，主要运用了视频采集﹑数字图像处理﹑数字信号处理﹑精密测量与控制等多项技术，系统软件按新国家标准GB/T3505—2000等的要求编写，可输出并显示全部粗糙度相关参数与曲线，实时显示被测表面轮廓的显微图象，对被测量表面轮廓进行局部放大，可实现自动与手动测量，Windows环境下全中文界面的工作软件等，按要求输出精美的测试。

测量：0.1μｍ；

测量范围：0.1μｍ< Ra < 30μｍ

测量参数（按GB/T 3505—2000）：

   幅度参数 ：                            代表符号

       轮廓峰高                          Rp 

       轮廓谷深                          Rv

       轮廓的高度                        Rz

       轮廓单元的平均线高度                  Rc

轮廓的总高度                          Rt

评定轮廓的算术平均偏差                Ra

评定轮廓的均方根偏差                  Rq

评定轮廓的偏斜度                      Rsk

评定轮廓的陡度                        Rku

间距参数：

轮廓单元的平均宽度                    RSm   

混合参数：

  评定轮廓的均方根斜率                  R△q

曲线和相关参数：

 轮廓的支承长度率                      Rmr(c)

 轮廓截面高度差                        Rδc

相对支承比率                          Rmr

轮廓的支承长度率曲线

轮廓幅度分布曲线