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OLED背光板寿命周期测量设备

描述：量测OLED面板长时间亮灯时的各种特性（辉度、色度、亮灯电流、电压值），以检查OLED面板的寿命。 立即询价

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高灵敏度亮度计（辉度计）

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色度光谱分析仪系统

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反射率光谱测量系统

描述：反射光谱量测 立即询价

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透射率光谱测量系统

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低相位差高速检查机 RE-100

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配光测量系统 GP-1000

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CIE平均化LED光度测量系统 AL-1000

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高感度分光光谱仪 MCPD-7700

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紫外、可见、近红外光分光光谱仪 MCPD-3700

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日本大塚(OTSUKA)电子膜厚测定仪

描述：紫外到近紅外光領域的反射光譜，適用於多層膜量測、光學常數分析的光干涉式膜厚儀。以光為量測媒介，非接觸式、不破壞樣品的高再現性。 190nm~1600nm的大範圍波長解析。 1nm~250μm薄膜到厚膜的全般對應。立即询价

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相位差量测检查机 RETS 100

描述：适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角（光学轴）或角度配向性等光学膜偏光特性的装置 立即询价

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动态画面反应时间检测仪 MPRT-2000

描述：动态画面反应时间检测仪 MPRT-2000 立即询价

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彩色滤光片色度检测仪 LCF-3100

描述：穿透率、色度、光学浓度、膜厚、反射率、线宽等测量，完整支持彩色滤光片制程中检测评价。 立即询价

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平面显示器光电特性检查机 MD series

描述：全自动检查FPD模块的显示性能及LCD背光模块的亮灯性能。 立即询价

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