- 品牌/商标：OTSUKA
- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：日本Japan
低相位差高速检查机 RE-100
? 产品特色：
(0.1秒以下的高速同时量测)
(此系统为特殊规格)
? 测量原理：
RE-100，系采用光结晶像素与CCD感光组件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光组件，可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。
CCD感光组件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往，不需要再使用任何的驱动组件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的、更具备长时间使用的安定性。
? 测量原理：
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相位差（ρ[deg.],Re[nm]） |
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光学轴方位角（θ[deg.]） |
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椭圆率（ε）,方位角（γ） |
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三次元屈折率（NxNyNz） |
? 应用范围：
■ 相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、
■ 树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)
? 规格样式：
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样品尺寸 |
小10×10mm ～ 100×100mm |
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量测波长 |
550nm （标准规格）*1 |
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相位差量测范围 |
约0nm ～ 约10μm |
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相位差量测 |
0.05nm （3σ）*2 |
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光学轴量测 |
0.05°（3σ）*2 |
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解析组件 |
偏光检测仪 |
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量测口径 |
2.2mm×2.2mm |
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通讯接口 |
100W 卤素灯或LED光源 |
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尺寸 |
300(W) × 560(H) ×430（D) mm |
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重量 |
约 20 kg |
*1可选择其它波长 *2量测水晶波长板之(约55nm，2枚型)
? 测量实例：
偏光检测仪在生产在线的应用 (In-line Process)
■ USB传输，可适用于多种环境的架设。
■ 超高速量测，适用于生产线中的实时监控。
■ 可搭配复数偏光检测仪，同时进行多点位、多角度(Rth)量测。
