供应恒温恒湿箱
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | CH125，CH300 | |
| 品牌/商标： | MSL |
CH125，CH300恒温恒湿箱
主要参数概括：
测试容积：125，300 升
温度范围：0 ~ 90C
温度稳定性：<< ± 00.33 ℃
温度均匀性：± 1 %
升温斜率(20~80C )：4 C/min
降温斜率(80~20C )：1 C/min
相对湿度：25~98% （湿度控制时温度范围：10 ~ 90 C ）
湿度稳定性：< ± 3 %
意大利Ascon PID控制器，最多可设定100个程序，每个程序可编程多段
温升曲线设置，Max 99段，LED显示。 带有串行通信 RS 485 or 232，
可连接电脑（可选项）
高性能隔热材料箱壁,不锈钢内壁
箱体内温湿度度循环系统使温湿度一致
温度2级保护（级保护测试产品，第二级保护试验箱）
设备保护装置：
1.限温保护
2.循环风扇过流保护, 堵转报警。
3.熔丝开关保护
4.漏电过流短路保护
- 所属城市：北京 北京市
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 冯先生
- 电话：010-88447108
- 传真：010-88438081
- 手机：13911457960
- QQ ：
F50 薄膜测厚仪
信息内容：Filmetrics薄膜测厚仪产品简介 世界一流，经济有效的Filmetrics 薄膜测厚仪系统，测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成个薄膜厚度测量！ F50 薄膜测厚仪主要用于测试各种透明半透明的膜厚。 产品简介： 1 F50 配备全自动R-θ和 X-Y工作台，有 200mm和300mm两种型号可供选择，客户也可提供所需尺寸。测量速率高达2点/秒，通过快速扫描功能，可取得整片样品的厚度分布情况以及光学参数（n 、k），有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm) ； 2 测量的薄膜厚度范围从10nm到450um，精度为 0.1nm 。 主要特点： 1 操作简单、使用方便； 2 测量快速、准确； 3 体积小、重量轻； 4 价格便宜。 应用领域: 1 半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物； 2 LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides； 3 光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片；
供应薄膜厚度测试仪
信息内容：Filmetrics薄膜厚度测试仪产品简介 世界一流,经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成个薄膜厚度测量！ F20-XT 经济型薄膜厚度测试仪主要用于测试各种透明半透明的膜厚。 产品简介： 1 是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的，波长范围从1200nm到1450nm，在NIR波长分辨率为 0.5nm； 2 薄膜厚度的测量范围是：0.2～ 450um（低光学参数薄膜），0.1～160um（Si及其它半导体），精度都好于0.4%。 应用领域 : 1 微机电系统MEMS； 2 绝缘体上硅SOI； 3 倒装芯片Flip Chips； 4 厚聚合物。
