供应ZLDS102激光测厚度传感器 应用于单点测厚
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZLDS102 | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
应用：铁路行业
测厚传感器：ZLDS10X系列
激光三角漫反射位移传感器用于测厚有明显优点：
测厚传感器－非常小的测量光斑，是点光面积，如真尚有公司ZLDS10X系列光斑面积约1mm，它比面积型非接触电容、电涡流传感器，对被测体面积几乎无要求，适合测量非常小面积尺寸厚度；
测厚传感器－较远的测量范围起始间距。它比非接触电容、电涡流传感器起始间距大很多，如真尚有公司ZLDS100激光位移传感器测量量程100mm，
测量间距可以达到1000mm。这样传感器可以远离被测体，免受碰坏，及被测体热辐射影响；
－有很大的测量范围，如真尚有公司ZLDS101激光位移传感器量程达2000mm，这是其它传感器很难做到的；
－与被测体材料无关，即金属非金属体，非透明有漫反射条件表面都能测。
和其它传感器测厚一样，要实现精密测厚需要注意以下条件，否则再好的传感器也测不准：
1，用单激光位移传感器测厚
被测体放在测量平台上，测量出传感器到平台表面距离，然后再测出传感器到被测体表面间距，经计算后测出厚度。要求被测体与测量平台之间无气隙，被测体无翘起。这些严格要求只有在离线情况实现。
测厚传感器在工业生产过程中常用于测量材料及其表面镀层厚度，并且可以用于厚度控制系统的误差测量。测厚传感器的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。
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供应ZLDS10x激光测厚仪 测厚传感器测量电极板的厚度
信息内容：应用：电气电子 测厚传感器：ZLDS10X系列 极板的厚度能在生产线上持续监控。错误的厚度能立即被检测出来，把浪费减少到程度。在电极板的上下方各安置一个ZLDS100系列激光位移传感器！ 测厚传感器工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。 测厚传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。 应用领域：广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。 测厚传感器利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。 橡胶的待加工原料，典型的如从挤出机，压延机或在轮胎成型过程中的未加工或未硫化的材料，通常还是热而且粘的，具有黑色光泽表面，同时释...
供应ZLDS102激光测厚仪 测量工件涂层的厚度
信息内容：要求：涂层厚度测量 客户要求： 工件的图片如图，客户需要测量铺在工件上得硅胶片的厚度。工件是大型的工件，传感器能安装在支架上，在固定轨迹下测量工件的表面情况。 测量方案： 将测厚传感器ZLDS102激光测距传感器固定在支架上，先测量一下传感器到工件（没有硅胶）的距离，把这个距离设定为一个零点。然后传感器在支架的带动下，沿着工件的轨迹扫描测量。在测量到没有硅胶的位置停止，并且发出报警信号。传感器可以实现实时测量。 测厚传感器ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。 提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。 提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。 推荐型号： ZLDS102-50-25-2k-232-U-IN-AL-CC-2 测厚传感器的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。 测厚传感器工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被...
