供应ZLDS10x激光测厚仪 测厚传感器测量电极板的厚度
| 价 格： | 1.00 | |
| 型号/规格： | ZLDS10x | |
| 品牌/商标： | 英国真尚有 |
应用：电气电子
测厚传感器：ZLDS10X系列
极板的厚度能在生产线上持续监控。错误的厚度能立即被检测出来，把浪费减少到程度。在电极板的上下方各安置一个ZLDS100系列激光位移传感器！
测厚传感器工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。
测厚传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。
应用领域：广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。
测厚传感器利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。
橡胶的待加工原料，典型的如从挤出机，压延机或在轮胎成型过程中的未加工或未硫化的材料，通常还是热而且粘的，具有黑色光泽表面，同时释放出烟雾。针对这样的特殊环节，ZLDS200的激光强度、测量采样时间可以调整，足以克服黑色光泽表面和烟雾的影响。典型的轮胎生产过程包括：密炼工序，胶部件准备工序（挤出，压延，胶圈成型，帘布裁断，贴三角胶条，带束层成型），轮胎成型工序，硫化工序，最终检验工序，轮胎测试。
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供应ZLDS102激光测厚仪 测量工件涂层的厚度
信息内容：要求：涂层厚度测量 客户要求： 工件的图片如图，客户需要测量铺在工件上得硅胶片的厚度。工件是大型的工件，传感器能安装在支架上，在固定轨迹下测量工件的表面情况。 测量方案： 将测厚传感器ZLDS102激光测距传感器固定在支架上，先测量一下传感器到工件（没有硅胶）的距离，把这个距离设定为一个零点。然后传感器在支架的带动下，沿着工件的轨迹扫描测量。在测量到没有硅胶的位置停止，并且发出报警信号。传感器可以实现实时测量。 测厚传感器ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。 提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。 提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。 推荐型号： ZLDS102-50-25-2k-232-U-IN-AL-CC-2 测厚传感器的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。 测厚传感器工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被...
供应ZTMS08激光测厚仪 测量薄膜片材厚度
信息内容：薄膜生产的厚度测量问题： 对于生产薄膜类的企业来说，薄膜的厚度是个重要的参数。无论是从产品质量还是生产成本来说，在薄膜生产中对厚度控制都是一个重要的技术指标。薄膜生产厚度不均匀或者厚度值不达标，直接影响薄膜产品质量；而在生产薄膜的过程中，厚度太大，会增加企业生产的成本，厚度太薄，又达不到客户需求。因此厚度的测量是各种薄膜类生产企业必须的监控环节。 接触式测量与非接触测量： 传统的测量薄膜方法是接触式测量，由于薄膜在生产过程中未成形固化，接触式测量会直接影响薄膜的形状、厚度，不利于保证产品的质量；接触探头对在线薄膜接触的压力过大，测量结果会变小，从而误导对薄膜厚度判断和生产控制，造成材料浪费，产品质量也没能够保证。许多薄膜类生产企业都因为在线测量薄膜厚度的问题，每年造成数十万元的材料浪费。 测厚传感器ZTMS08测厚仪，采用激光非接触式测量方式，不对在线薄膜产品构成影响，而且测量精度准确，给生产机械和工人提供准确的厚度数据，达到对薄膜生产的质量、成本有效控制的目的。测厚传感器在沥青防水薄膜材料、电池板极片、塑料薄膜等企业得到广泛应用。 测厚传感器ZTMS08是将激...
