日本YAMAICHI QFN测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
| 价 格： | 面议 | |
| 是否提供加工定制： | 否 | |
| 品牌/商标： | 进口 | |
| 型号/规格： | QFN | |
| 应用范围： | 集成电路IC | |
| 种类： | 无 | |
| 接口类型： | 其他 | |
| 读卡类型： | 无 | |
| 形状： | 无 | |
| 制作工艺： | 无 | |
| 特性： | 无 | |
| 工作频率： | 无 | |
| 接触件材质： | 无 | |
| 绝缘体材质： | 无 | |
| 芯数： | 无 | |
| 针数： | 无 | |
| 线长： | 无（mm） |
Part Number Pitch Pins Body Size Centre Pins Cover Dimensions
A x B C x D
QFN11T024-002 0.5 24 3.5 x 4.5 NO LID 32 x 29
QFN11T032-003 0.5 32 5 x 5 YES LID 32 x 29
QFN11T032-004 0.5 32 4.5 x 5.5 NO LID 32 x 29
NP445-032-003 0.5 32 5 x 5 YES Open Top 32.8 x 32.8
QFN11T040-004 0.5 36/40 6 x 6 YES LID 32 x 29
QFN11T040-005 0.5 40 4.5 x 5.5 NO LID 35 x 32
QFN11T040-006 0.5 40 6 x 6 YES LID 32 x 29
QFN11T048-005 0.5 44/48 7 x 7 YES LID 32 x 29
QFN11T048-008 0.5 48 7 x 7 NO LID 35 x 32
QFN11T048-008 0.5 48 7 x 7 YES LID 35 x 32
NP445-048-001 0.5 48 7 x 7 YES Open Top 32.8 x 32.8
QFN11T056-001 0.5 52/56 8 x 8 YES LID 32 x 29
NP445-064-002 0.5 64 9 x 9 YES Open Top 32.8 x 32.8
NP364-01649 1 16 6 x 6 NO Open Top 25 x 25
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： chris
- 电话：0755-23036306
- 传真：-
- 手机：
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苹果系列POP封装A5芯片/A4芯片植球—斯纳达
信息内容：斯纳达科技拥有完整的植球工艺，特别是对苹果（Apple)系列PAD内凹封装芯片植球有独到工艺，如A5(K4X2G643GE)、A4（APL0398 339S0084）等苹果（Apple)系列芯片；完美地解决了解决了小间距POP芯片植球难题,目前在国内外处在地位。
苹果手机测试治具|338S0768-A5苹果手机测试架
信息内容：dzsc/18/9696/18969609.jpg夹手结构，下压平稳，操作方便；保证IC的压力均匀，不移位；双芯片测试，测试同样稳定；高密度进口板材，制作的导向孔能保证IC的定位精确；高精度的定位槽，更能保证IC定位精确，生产效率高；探针可更换，维修方便，成本低；进口高频探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球。"
