供应HPS2511直流低电阻测试仪（智能型）
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | HPS2511 | |
| 品牌/商标： | 海尔帕 |
技术参数
型号：直流低电阻测试仪HPS2511
电阻测量范围：0.01mΩ～20.000ＫΩ
电阻准确度： 0.1%
测试电流：100uA- 100mA
测试速度：慢速5次/秒 快速10次/秒
主要功能：
上、下限设置。
合格/不合格及声光报警
量程锁定
性能特点：
快速的测量！
智能清零。
工作温湿度：0℃-40℃ ≤85% RH 电源要求：198V-242V AC 47.5Hz-52.5Hz
技术参数
型号：直流低电阻测试仪HPS2511
电阻测量范围：0.01mΩ～20.000ＫΩ
电阻准确度： 0.1%
测试电流：100uA- 100mA
测试速度：慢速5次/秒 快速10次/秒
主要功能：
上、下限设置。
合格/不合格及声光报警
量程锁定
性能特点：
快速的测量！
智能清零。
工作温湿度：0℃-40℃ ≤85% RH 电源要求：198V-242V AC 47.5Hz-52.5Hz
- 所属城市：江苏 常州
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 庞小姐
- 电话：519-86636180
- 传真：0519-86636120
- 手机：15366804180
- QQ ：
供应 镀膜电阻测试仪HPS2523
信息内容：HPS2523镀膜电阻测试仪是海尔帕科技结合行业需求，专门推出的一款针对薄膜金属化检测的测试仪。薄膜金属化是生产金属化有机薄膜电容器的关键工序。金属层的厚度是薄膜金属化盾量的重要参数之一。它对金属化薄膜电容器的电性能影响很大，不同用途的金属化薄膜电容器对金属层的厚度有不同的要求。而均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻（简称方阻）表征。 HPS2523镀膜真流电阻测试仪可方便地测试镀膜的方阻（每平方厘米电阻量值）。HPS2523可用点测和面测两种方式测试镀膜的方阻，可更详细地分析薄膜金属化的质量。 海尔帕科技的同仁为了更准确的方阻测量，从方阻测量的基本原理着手优化了现有的的面测试方式，使得HPS2523镀膜电阻测试仪测量更精准，操作更简便。 主要技术规格： 电阻范围： 测量范围： 0Ω－99.99Ω， 分辨率： 10mΩ（准 确 度(20℃±10℃)： ≤±（1%＋3个字） 方阻测量范围：0——99.99Ω/cm2 测试电流：恒流1 mA /10mA /100 mA（自动） 测量方式：点测量方式和面测量方式 应用： 测量均匀平面薄层材料每平方厘米内的电阻量值。
供应HPS2561四探针电阻率测试仪
信息内容：测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线！ 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线！
