HPS2523镀膜电阻测试仪是海尔帕科技结合行业需求,专门推出的一款针对薄膜金属化检测的测试仪。薄膜金属化是生产金属化有机薄膜电容器的关键工序。金属层的厚度是薄膜金属化盾量的重要参数之一。它对金属化薄膜电容器的电性能影响很大,不同用途的金属化薄膜电容器对金属层的厚度有不同的要求。而均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻(简称方阻)表征。
HPS2523镀膜真流电阻测试仪可方便地测试镀膜的方阻(每平方厘米电阻量值)。HPS2523可用点测和面测两种方式测试镀膜的方阻,可更详细地分析薄膜金属化的质量。
海尔帕科技的同仁为了更准确的方阻测量,从方阻测量的基本原理着手优化了现有的的面测试方式,使得HPS2523镀膜电阻测试仪测量更精准,操作更简便。
主要技术规格:
电阻范围: 测量范围: 0Ω-99.99Ω,
分辨率: 10mΩ(准 确 度(20℃±10℃): ≤±(1%+3个字)
方阻测量范围:0——99.99Ω/cm2
测试电流:恒流1 mA /10mA /100 mA(自动)
测量方式:点测量方式和面测量方式
应用:
测量均匀平面薄层材料每平方厘米内的电阻量值。
测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线! 测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线!
产品型号: HPS2775 电感分选测试仪 测试参数 L,R,Q 测试频率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz, 测试电平 0.1Vrms,0.3Vrms,1Vrms 基本准确度 0.1% 显示范围 L R,Z Q Δ% θ (DEG) 0.01 µH — 99999 H 0.0001 Ω — 99.999MΩ ...