供应 镀膜电阻测试仪HPS2523
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | HPS2523 | |
| 品牌/商标： | 海尔帕 |
HPS2523镀膜电阻测试仪是海尔帕科技结合行业需求，专门推出的一款针对薄膜金属化检测的测试仪。薄膜金属化是生产金属化有机薄膜电容器的关键工序。金属层的厚度是薄膜金属化盾量的重要参数之一。它对金属化薄膜电容器的电性能影响很大，不同用途的金属化薄膜电容器对金属层的厚度有不同的要求。而均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻（简称方阻）表征。
HPS2523镀膜真流电阻测试仪可方便地测试镀膜的方阻（每平方厘米电阻量值）。HPS2523可用点测和面测两种方式测试镀膜的方阻，可更详细地分析薄膜金属化的质量。
海尔帕科技的同仁为了更准确的方阻测量，从方阻测量的基本原理着手优化了现有的的面测试方式，使得HPS2523镀膜电阻测试仪测量更精准，操作更简便。
主要技术规格：
电阻范围： 测量范围： 0Ω－99.99Ω，
分辨率： 10mΩ（准 确 度(20℃±10℃)： ≤±（1%＋3个字）
方阻测量范围：0——99.99Ω/cm2
测试电流：恒流1 mA /10mA /100 mA（自动）
测量方式：点测量方式和面测量方式
应用：
测量均匀平面薄层材料每平方厘米内的电阻量值。
- 所属城市：江苏 常州
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 庞小姐
- 电话：519-86636180
- 传真：0519-86636120
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供应HPS2561四探针电阻率测试仪
信息内容：测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线！ 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线！
供应HPS2775电感分选测试仪（分选机设备专用）
信息内容：产品型号： HPS2775 电感分选测试仪 测试参数 L,R,Q 测试频率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz, 测试电平 0.1Vrms,0.3Vrms,1Vrms 基本准确度 0.1% 显示范围 L R,Z Q Δ% θ (DEG) 0.01 µH — 99999 H 0.0001 Ω — 99.999MΩ ...
